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2006『차세대메모리 (회로분야)』기술 및 시장ㆍ특허분석보고서
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| 저자 |
: |
한국특허정보원
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| 출판사 |
: |
한국특허정보원 |
| 출판년도 |
: |
2006.09.01 |
| 페이지수 |
: |
134
( 권수 : 1 )
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| I S B N |
: |
2006103118 |
| 정가 |
: |
80,000원
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| 판매가 |
: |
80,000원
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| 특징 |
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본 보고서는 최근 10여년간 국내ㆍ외에서 차세대 메모리 회로분야와 관련하여 6개분야(MRAM, FRAM, PRAM, Polymer-RAM, 단전자 메모리, RRAM)에 대하여 출원공개 또는 등록된 특허들을 수집 및 분석함으로써, 이 분야에 관련된 정책입안자 및 산업체 종사자 및 연구원들에게 동분야의 기술ㆍ시장 및 특허정보를 제공하는 것을 목적으로 하고 있습니다. |
| 주요목차 |
제1장 서 론
보고서 작성 목적 및 배경
제2장 차세대 메모리 기술 및 시장동향
■ 차세대 메모리의 기술 개요
■ 차세대 메모리의 시장동향 및 향후 전망
제3장 차세대 메모리 회로분야의 특허동향
■ 분석 기준
1. 분석 범위
2. 분석 방법
■ 차세대 메모리의 전반적 특허동향
1. 전세계 연도별 특허동향
2. 출원인 국적별 특허동향
3. 메모리 소자별 특허동향 개요
제4장 메모리 소자별 특허동향
■ MRAM 특허동향
1. MRAM 기술 개요
1.1 MRAM이란
1.2 MRAM의 기술 정의
1.3 MRAM 기술 개발 현황
2. 분석기준
2.1 자료분석 범위
2.2 기술구분 기준
3. 한국의 특허동향
3.1 연도별 특허동향
3.2 국가별 특허동향
3.3 출원인별 특허동향
3.4 기술분야별 특허동향
4. 미국의 특허동향
4.1 연도별 특허동향
4.2 국가별 특허동향
4.3 출원인별 특허동향
4.4 기술분야별 특허동향
5. 일본의 특허동향
5.1 연도별 특허동향
5.2 국가별 특허동향
5.3 출원인별 특허동향
5.4 기술분야별 특허동향
6. 유럽의 특허동향
6.1 연도별 특허동향
6.2 국가별 특허동향
6.3 출원인별 특허동향
6.4 기술분야별 특허동향
7. 심층 분석
8. 결 어
■ FRAM 특허동향
1. 기술 개요
1.1 FRAM이란
1.2 FRAM의 종류
1.3 FRAM 기술 개발 현황
2. 분석기준
2.1 자료분석 범위
2.2 기술구분 기준
3. 한국의 특허동향
3.1 연도별 특허동향
3.2 국가별 특허동향
3.3 출원인별 특허동향
3.4 기술분야별 특허동향
4. 미국의 특허동향
4.1 연도별 특허동향
4.2 국가별 특허동향
4.3 출원인별 특허동향
4.4 기술분야별 특허동향
5. 일본의 특허동향
5.1 연도별 특허동향
5.2 국가별 특허동향
5.3 출원인별 특허동향
5.4 기술분야별 특허동향
6. 유럽의 특허동향
6.1 연도별 특허동향
6.2 국가별 특허동향
6.3 출원인별 특허동향
6.4 기술분야별 특허동향
7. 심층 분석
8. 결 어
■ PRAM 특허동향
1. 기술 개요
1.1 PRAM이란
1.2 PRAM의 특징
1.3 PRAM 기술 개발 현황
2. 분석기준
2.1 분석 대상 특허
3. 한국의 특허동향
3.1 연도별 특허동향
3.2 국가별 특허동향
3.3 출원인별 특허동향
4. 미국의 특허동향
4.1 연도별 특허동향
4.2 국가별 특허동향
4.3 출원인별 특허동향
4.4 출원인별 평균 청구항수
5. 일본의 특허동향
5.1 국가별 특허동향
5.2 출원인별 특허동향
6. 유럽의 특허동향
6.1 국가별 특허동향
6.2 출원인별 특허동향
7. 심층 분석
8. 결 어
■ Polymer-RAM 특허동향
1. 기술 개요
1.1 Polymer-RAM이란
1.2 Polymer-RAM의 기술 정의
1.3 Polymer-RAM 기술 개발 현황
2. 분석기준 및 분석대상 특허
2.1 분석기준
2.2 분석대상 특허
3. 심층분석
■ 단전자 메모리의 특허동향
1. 기술 개요
1.1 단전자 메모리란
1.2 단전자 트랜지스터의 기술 정의
1.3 단전자 메모리 기술 개발 현황
2. 분석기준 및 분석대상 특허
2.1 분석기준
2.2 분석대상 특허
3. 심층분석
■ RRAM의 특허동향
1. 기술 개요
1.1 RRAM 이란
1.2 RRAM 의 기술 정의
1.3 RRAM 기술 개발 현황
2. 분석기준 및 분석대상 특허
2.1 분석기준
2.2 분석대상특허
3. 심층 분석
제4장 결 론
결 어
◈참여연구원
소 속 : 한국특허정보원
총괄 책임자 : 전 동 찬
사업 책임자 : 조 대 훈
과제 책임자 : 김 태 형
참여 연구원 : 김 인 수, 이 준 우, 이 혁 기, 김 영 환, 장 진 목, 윤 인 석 |
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특허 서점 
