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특허정보분석 매뉴얼
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| 저자 |
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한국특허기술연구원
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| 출판사 |
: |
진한엠앤비 |
| 출판년도 |
: |
2010.02.05 |
| 페이지수 |
: |
300
( 권수 : 1 )
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| I S B N |
: |
8984324310 |
| 정가 |
: |
150,000원
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| 판매가 |
: |
135,000원
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| 특징 |
과학기술이 경제성장의 핵심요인으로 주목 받으면서 과학기술활동을 체계적으로 평가하려는 노력이 선진국을 중심으로 오래전부터 논의되어 왔다.
이와 관련하여 OECD는 1962년 과학기술지표에 대한 전문가 그룹인 NESTI(National Experts of Science & Technology Indicators)를 결성하고 ‘과학기술투자’, ‘특허정보의 활용’ 등과 관련된 다양한 매뉴얼을 발간하여 과학기술지표에 대한 국제표준화 활동 및 협력을 지원하고 있다.
본 역서는 OECD NESTI의 연구성과물로써 특허 정보분석 매뉴얼인 「과학기술지표로서의 특허 데이터의 활용(Using Patent Date as Science & Technology Indicators)」과 「국가간 기술 성과 비교를 위한 특허건수의 활용(Using Patent Counts for Cross-Country Comparisons of Technology Output)」을 합본한 것으로 내용을 보완하여 더욱 정교한 분석이 가능한 방법을 제시하며, 쉽게 설명되어 있다. |
| 주요목차 |
제1부 과학기술지표로서의 특허데이터의 활용
제1장 배경 및 개념틀
1.1 특허지표와 다른 과학기술지표와의 관계
1.2 특허지표 이용의 방법론적 문제
1.3 특허지표의 장점
제2장 특허법 제도
2.1 배경 : 주요 협약
2.2.1 특허절차
a) 단일국에서의 보호
b) 다수국에서의 보호
2.2.2 유럽, 미국, 일본의 관행에서 나타나는 몇 가지 특징
a) 유럽특허청
b) 미국특허청
c) 일본특허청
2.2.3 특허비용
제3장 특허문서자체에서부터 최신기술정보까지
3.1 특허 관련 용어
3.2 특허분류제도
3.2.1 국제특허분류
a) 원칙
b) 구조
c) 갱신 방법
3.2.2 미국의 분류제도
a) 원칙
b) 구조
c) 갱신
d) IPC와 USPOC간의 일치
3.2.3 주요 특수 분류
3.3 특허 데이터베이스
3.3.1 WPI(L) 데이터베이스
3.3.2 EPAT 및 PCTPAT 데이터베이스
3.3.3 미국 데이터베이스
a) US PATENTS 데이터베이스
b) CLAIMS 데이터베이스
c) TAF 데이터베이스
3.3.4 그 외의 특허 데이터베이스
a) INPADOC
b) EDOC
c) JAPIO
3.3.5 온라인 및 CD-ROM 특허
a) 온라인 데이터베이스
b) CD-ROM 데이터 베이스
3.3.6 결론 : 특정 업무에 적합한 데이터베이스
a) 여러 유형의 특허 데이터베이스
b) 데이터베이스의 선택
제4장 과학기술 및 경제 분석에서의 특허지표
4.1 특허와 관련된 기술 성과지표
4.1.1 기술지표 : 정의와 이용
4.1.2 특허 건수
a) 특허건수는 어떻게 세는가?
b) 어떤 특허기관을 고려해야 하는가?
c) 특허가 발생한 국가와 발명인의 유형에 따른 특허데이터
4.2 국가별 특허활동 분석
4.2.1 국가 간 비교
4.2.2 각구의 분야별 전문화
4.3 기술과 과학간의 상관지표
4.3.1 기술과학간 기술 연계
a) 선행 특허를 인용한 특허
b) 공동분류
4.3.2 기술/과학간 연계성 지표
a) 학술보고서에서의 특허 인용
b) 연구자의 특허출원과 발명인의 과학출판물
4.4 분야별 특허활용 분석
4.4.1 특허분류와 산업 및 무역분류체계간의 관계
4.4.2 기술적 상호의존성에 대한 분석
4.4.3 특허와 R&D 그리고 혁신 지표
a) 특허와 R&D
b) 특허와 혁신조사
4.4.4 특허 및 경제수행에 대한 지표
4.5 기업의 특허 활동에 대한 분석
4.5.1 특허화와 기업의 산업 전략
4.5.2 특허와와 산업구조
a) 특허 및 다중기술 기업
b) 기업유형별 특허화
c) 국제화 유형
맺음말
부록 Ⅰ 세계 선지 특허청들에 출원된 특허문서 전문(前文)
부록 Ⅱ 주요 특허데이터베이스에서 이용되는 정보
부록 Ⅲ
A. 국제특허분류가 OST-INP/FhG-ISI 과학기술용어체계를 바탕으로 어떻게 구성되어지는가의 예
B. 국제특허분류 초록
부록 Ⅳ
A. IPC와 SITC의 통일화
B. 캐나다 특허 허연건에 근거한 발명의 생산 및 이용 대비표주기
참고문헌
제2부 국가간 기술성과 비교를 위한 특허건수의 활용
제1장 서론
제2장 통계 데이터 원천으로서의 특허
2.1 특허분서의 정보 내용
2.2 특허에 기초한 지표
2.3특허 건수의 장점과 단점
제3장 장소와 시간, 국가 및 일자별 특허 분류
3.1 국가별 분류 : 발명인, 출원인 혹은 우선국
3.2 일자별 분류 : 우선권일, 출원일, 허여일
제4장 대응특허
4.1 국가별 특허건수 : 통계학적 편향
4.2 대응특허 건수
4.3 통계적 목적을 위한 “대응특허”의 이점들
제5장 결론
참고문헌
INSIDE BOOK
The Measurement of Science & Technical Activities
Using Patent Data as Science & Technology Indicators |
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특허 서점 
